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由于樣品臺的限制，SEM樣品必須足夠小，同時可能需要特殊的預處理來增加樣品的電導率和穩定性，以便樣品能夠承受高真空條件和高能電子束的轟擊。通常使用導電膠將樣品牢固地安裝在樣品臺或短柱上。SEM被廣泛用于半導體晶片的缺陷分析，制造商制造出可以檢查尺寸為300mm的半導體晶片的任何部位的儀器。許多儀器都有著可以將該尺寸的物體傾斜45°并提供連續360°旋轉的腔室。一些生物樣品不使用導電材料涂層，而是通過使用不同的OTO染色方法浸漬鋨來增加材料的整體電導率。當原始樣品因方法限制或法...

EPR（電子順磁共振波譜）是一種磁共振光譜，用于檢測未配對（或“自由”）電子。EPR的物理原理與核磁共振相似，但EPR測量的是未配對的電子，而不是質子或其它核自旋。EPR主要檢測自由基、晶格缺陷、過渡金屬與稀土金屬離子和三重態分子。下面來一起了解下EPR（BrukerEMXPlus)，市面上新、使用率較高的儀器。EPR主要由微波橋、電磁鐵、諧振腔、微波橋供電箱和磁鐵供電箱組成。微波橋是提供合適頻率的電磁波，電磁鐵是提供磁場，樣品放在諧振腔中。原理：樣品中的電子在外磁場中只有兩...

影響掃描電鏡（SEM）的四個基本要素掃描電子顯微鏡（SEM）是介于透射電鏡和光學顯微鏡之間的一種微觀形貌觀察方法它可以直接利用樣品表面材料的材料特性進行顯微成像一，放大倍數較高，可連續調整20至20萬倍；二，景深大，視野大，成像立體感強可直接觀察各種樣品不均勻表面的細微結構；三，試樣制備簡單。影響掃描電鏡的分辨本領的主要因素有：A.入射電子束光斑直徑：掃描電鏡分辨能力的極限一般來說，熱陰極電子槍的最小束斑直徑可以減小到6nm，場發射電子槍可以使束斑直徑小于3nmB.入射電子束...

掃描電子顯微鏡,簡稱掃描電鏡，已成為功能強、用途廣的材料表征工具，已廣泛應用于材料，冶金，礦物，生物學等領域。在SEM中，電子束以柵網模式掃描樣品。首先，電子槍在鏡筒頂部生成電子。當電子的熱能超過了源材料的功函數時，就會被釋放出來，然后它們加速向帶有正電荷的陽*速移動。整個電子鏡筒必須處于真空狀態。SEM主要性能參數分辨率對微區成分分析而言，分辨率指能分析的最小區域；對成像而言，它是指能分辨兩點間的最小距離。SEM分辨率主要受三方面影響：入射電子束束斑直徑、入射電子束在樣品中...

高壓氣體吸附測試的準確度，受到多方面因素的影響，如溫度，儀器氣密性，壓力傳感器精度，儀器耐壓強度等等。由于氣體受熱膨脹，因此，溫度是影響高壓氣體吸附測試的一個重要指標，哪些地方需要恒溫，如何維持系統恒溫就顯得尤為重要了。在高壓吸附測試中，有以下兩處需要恒溫：1.樣品恒溫：只有樣品恒溫，那么對樣品的高壓氣體吸附性能評價才有意義。因為溫度對樣品的吸附能力具有很大的影響。溫度不同，樣品的吸附能力也不同。通常所說的樣品的吸附能力也是指樣品在某一特定溫度下的吸附能力。恒溫的方式包括水浴...